Yeni AR-GE bildirimiz yayında!
“Enhancing Software Defect Prediction Accuracy: A Multi-Objective Firefly Algorithm Approach”
Doç. Dr. Peri Güneş, Doç. Dr. Sina Apak, Yahya D. Navaei, Harun Benli (10.01.2026)
Bu çalışmada, amaç; hata riski yüksek modülleri daha erken ve daha doğru belirleyerek kalite güvence süreçlerinde kaynak kullanımını daha verimli hale getirmek. Böylece test ve inceleme maliyetlerini azaltan, ürün güvenilirliğini artıran ve Ar-Ge kararlarını güçlendiren pratik bir yaklaşım sunuyoruz.
infina olarak, ar-ge faaliyetlerimizle sektöre katkı sunmaya devam ediyoruz.